Lugar de origem: | China |
Marca: | PAM-XIAMEN |
Quantidade de ordem mínima: | 1-10,000pcs |
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Preço: | By Case |
Tempo de entrega: | 5-50 dias de trabalho |
Termos de pagamento: | T/T. |
Habilidade da fonte: | 10.000 bolachas/mês |
nome: | Semi isolando sic a bolacha | Grau: | Categoria do manequim |
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Descrição: | SEMI carcaça 6H | Tamanho: | 10mm x 10mm |
Palavras-chave: | bolacha do carboneto de silicone do único cristal sic | Aplicação: | indústria optoelectronic |
Realçar: | 4h sic wafer,sic wafer |
6H queisola sic a carcaça, categoria do manequim, 10mm x 10mm
Crescimento sic de cristal
O crescimento de cristal maioria é a técnica para a fabricação de carcaças monocristalinas, fazendo a base para um processamento mais adicional do dispositivo. Para ter uma descoberta sic na tecnologia obviamente nós precisamos a produção sic de carcaça com um process.6H- reprodutível e os cristais 4H- são crescidos sic em uns cadinhos da grafite em altas temperaturas até 2100-2500°C. que a temperatura de funcionamento no cadinho é fornecida pelo aquecimento indutivo (RF) ou resistive. O crescimento ocorre sic em sementes finas. A fonte representa sic a carga policristalina do pó. Sic o vapor na câmara de crescimento consiste principalmente em três espécies, a saber, si, Si2C, e SiC2, que são diluídos pelo gás de portador, por exemplo, argônio. Sic a evolução da fonte inclui a variação de tempo da porosidade e do diâmetro do grânulo e o graphitization dos grânulo do pó.
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PROPRIEDADES MATERIAIS DE CARBONETO DE SILICONE
Polytype | Único cristal 4H | Único cristal 6H |
Parâmetros da estrutura | a=3.076 Å | a=3.073 Å |
c=10.053 Å | c=15.117 Å | |
Empilhando a sequência | ABCB | ABCACB |
Faixa-Gap | eV 3,26 | eV 3,03 |
Densidade | 3,21 · 103 kg/m3 | 3,21 · 103 kg/m3 |
Therm. Coeficiente da expansão | 4-5×10-6/K | 4-5×10-6/K |
Índice da refração | nenhuns = 2,719 | nenhuns = 2,707 |
ne = 2,777 | ne = 2,755 | |
Constante dielétrica | 9,6 | 9,66 |
Condutibilidade térmica | 490 W/mK | 490 W/mK |
Campo bonde da divisão | 2-4 · 108 V/m | 2-4 · 108 V/m |
Velocidade de tração da saturação | 2,0 · 105 m/s | 2,0 · 105 m/s |
Mobilidade de elétron | 800 cm2/V·S | 400 cm2/V·S |
mobilidade de furo | 115 cm2/V·S | 90 cm2/V·S |
Dureza de Mohs | ~9 | ~9 |
PAM-XIAMEN fornece a bolacha de alta qualidade do único cristal sic (carboneto de silicone) para a indústria eletrônica e optoelectronic. Sic a bolacha é propriedades elétricas originais de um materialwith do semicondutor da próxima geração e propriedades térmicas excelentes para a aplicação do dispositivo da alta temperatura e de poder superior. Sic a bolacha pode ser fornecida no diâmetro 2~6 polegadas, 4H e 6H sic, N-tipo, nitrogênio lubrificado, e tipo deisolamento disponível.
6H queisola sic a carcaça, categoria do manequim, 10mm x 10mm
PROPRIEDADE DA CARCAÇA | S6H-51-SI-PWAM-250 S6H-51-SI-PWAM-330 S6H-51-SI-PWAM-430 |
Descrição | Carcaça da categoria 6Hdo manequimSEMI |
Polytype | 6H |
Diâmetro | (50,8 ± 0,38) milímetro |
Espessura | (250 ± 25) μm do μm do μm (330 ± 25) (430 ± 25) |
Resistividade (RT) | >1E5 Ω·cm |
Aspereza de superfície | < 0=""> |
FWHM | <50 arcsec=""> |
Densidade de Micropipe | A+≤1cm-2 A≤10cm-2 B≤30cm-2 C≤50cm-2 D≤100cm-2 |
Orientação de superfície | |
No ± <0001>0.5° da linha central | |
Fora da linha central 3.5° para <11-20>o ± 0.5° | |
Orientação lisa preliminar | Paralelize o ± 5° {de 1-100} |
Comprimento liso preliminar | ± 16,00 1,70 milímetros |
Si-cara lisa secundária da orientação: 90° cw. do ± liso 5° da orientação | |
C-cara: ccw de 90°. do ± liso 5° da orientação | |
Comprimento liso secundário | ± 8,00 1,70 milímetros |
Revestimento de superfície | Cara simples ou duplo lustrada |
Empacotamento | Única caixa da bolacha ou multi caixa da bolacha |
Área útil | ≥ 90% |
Exclusão da borda | 1 milímetro |
Sic isoladores: Óxidos térmicos e tecnologia do MOS
A grande maioria de microplaquetas de circuito semicondutor-integradas no uso confia hoje no metal-óxido do silicone
transistor do efeito de campo do semicondutor (MOSFETs), cujos vantagens eletrônicas e operacional
a física do dispositivo é resumida no capítulo de Katsumata e em outra parte. Dado o extremo
a utilidade e o sucesso do canal da inversão MOSFET-basearam a eletrônica no silicone do VLSI (assim como
dispositivos de poder discretos do silicone), é naturalmente desejável executar a inversão de capacidade elevada
MOSFETs do canal dentro sic. Como o silicone, forma sic um thermal quando é aquecido suficientemente no
ambiente do oxigênio. Quando isto permitir sic a tecnologia do MOS de seguir um tanto o altamente bem sucedido
o trajeto da tecnologia do MOS do silicone, lá é não obstante diferenças importantes na qualidade do isolador e
processamento do dispositivo que está impedindo presentemente que sic os MOSFETs realizem seu benéfico completo
potencial. Quando o seguinte discurso tentar destacar rapidamente as questões básicas que enfrentam sic o MOSFET
o desenvolvimento, umas introspecções mais detalhadas pode ser encontrado nas referências 133-142.
Sobre nós
A responsabilidade é a segurança da qualidade, e a qualidade é a vida do corporaçõ. Nós estamos olhando para a frente à cooperação a longo prazo com os clientes, nós faremos o melhor serviço e após o serviço de vendas para todos nossos clientes. Se você tem qualquer inquérito, por favor não hesite contactar-nos. Nós respondê-lo-emos na primeira vez como nós podemos.
Após anos de desenvolvimento, nós estabelecemos a rede perfeita das vendas e o sistema de serviço integrado da após-venda em doméstico e no exterior, que permite a empresa de proporcionar serviços oportunos, exatos e eficientes, e ganhamos boas reputações do cliente. Os produtos são vendidos all over em China e exportados para mais de 30 países e regiões tais como Europa, América, 3Sudeste Asiático, Ámérica do Sul, Médio Oriente e África. Todos a produção, o volume de vendas e a escala são classificaram primeiramente na mesma indústria.
Pureza alta da bolacha do fosforeto de índio do único cristal categoria de uma prima de 4 polegadas