Casa ProdutosBolacha do fosforeto de índio

Bolacha lubrificada Fe 4" da categoria do teste do InP aplicação de detecção ótica semi de isolamento

Bolacha lubrificada Fe 4" da categoria do teste do InP aplicação de detecção ótica semi de isolamento

Fe Doped InP Test Grade Wafer 4" Semi Insulating Optical Sensing Application

Detalhes do produto:

Lugar de origem: China
Marca: PAM-XIAMEN

Condições de Pagamento e Envio:

Quantidade de ordem mínima: 1-10,000pcs
Detalhes da embalagem: Empacotado em um ambiente do quarto desinfetado da classe 100, no único recipiente, sob uma atmosfer
Tempo de entrega: 5-50 dias de trabalho
Termos de pagamento: T/T.
Habilidade da fonte: 10.000 bolachas/mês
contacto
Descrição de produto detalhada
Nome do produto: bolacha do fosforeto de índio do único cristal Bolacha Diamter: 4 polegadas
Tipo da condução: Semi isolando Grau: Teste a categoria
Palavra-chave: bolacha do inp Aplicação: 600±25um
TTV: <15um> curva: <15um>
Realçar:

test grade wafer

,

epi ready wafer

Semi-isolando, a carcaça Fe-lubrificada do fosforeto de índio, 4", testa a categoria
 
Semi-isolando, a carcaça do fosforeto de índio, 4", testa a categoria

4" especificação da bolacha do InP      
Artigo Especificações
Tipo da condução Si-tipo
Entorpecente Ferro
Diâmetro da bolacha 4"
Orientação da bolacha 100±0.5°
Espessura da bolacha 600±25um
Comprimento liso preliminar 16±2mm
Comprimento liso secundário 8±1mm
Concentração de portador ≤3x1016cm-3 (0.8-6) x1018cm-3 (0.6-6) x1018cm-3 N/A
Mobilidade (3.5-4) x103cm2/V.s (1.5-3.5) x103cm2/V.s 50-70cm2/V.s >1000cm2/V.s
Resistividade N/A N/A N/A >0.5x107Ω.cm
EPD <1000cm>-2 <1x10>3cm-2 <1x10>3cm-2 <5x10>3cm-2
TTV <15um>
CURVA <15um>
URDIDURA <15um>
Marcação do laser mediante solicitação
Revestimento de Suface P/E, P/P
Epi pronto sim
Pacote Única recipiente ou gaveta da bolacha
 


PAM-XIAMEN fabrica bolachas do fosforeto de índio do único cristal de pureza alta para aplicações da ótica electrónica. Nossos diâmetros padrão da bolacha variam de 25,4 milímetros (1 polegada) a 200 milímetros (6 polegadas) em tamanho; as bolachas podem ser produzidas em várias espessuras e orientações com lados lustrados ou unpolished e podem incluir entorpecentes. PAM-XIAMEN pode produzir categorias da vasta gama: categoria principal, categoria do teste, categoria do manequim, categoria técnica, e categoria ótica. PAM-XIAMEN igualmente oferecem materiais às especificações do cliente pelo pedido, além do que composições feitas sob encomenda para aplicações do anúncio publicitário e da pesquisa e tecnologias proprietárias novas.

 

Aplicação de detecção ótica

Proteção ambiental apontando de detecção espectroscópica e identificação de substâncias perigosas
• Um campo crescente está detectando baseou no regime do comprimento de onda do InP. Um exemplo para a espectroscopia do gás é equipamento de teste da movimentação com medida do tempo real de (CO, CO2, NOX [ou NENHUM + NO2]).
• Verificação rápida dos traços de substâncias tóxicas nos gás e nos líquidos (que incluem o água da torneira) ou das contaminações de superfície para baixo ao nível do ppb.
• Espectroscopia para o controle de produto não-destrutivo por exemplo do alimento (detecção atempada de gêneros alimentícios estragados)
• A espectroscopia para muitas aplicações novas, no controle de poluição do ar está sendo discutida especialmente hoje e as aplicações estão na maneira.

 

Bolacha lubrificada Fe 4" da categoria do teste do InP aplicação de detecção ótica semi de isolamento A mobilidade de salão do elétron contra a temperatura para a lubrificação diferente nivela.
Curva inferior - no=Nd-Na=8·1017 cm-3;
Curva média - no=2·1015 cm-3;
Curva superior - no=3·1013 cm-3.
(Razeghi e outros [1988]) e (  de Walukiewicz   e outros [1980]).
Bolacha lubrificada Fe 4" da categoria do teste do InP aplicação de detecção ótica semi de isolamento Mobilidade de salão do elétron contra a temperatura (altas temperaturas):
Curva inferior - no=Nd-Na~3·1017 cm-3;
Curva média - no~1.5·1016 cm-3;
Curva superior - no~3·1015 cm-3.
(Galavanov e Siukaev [1970]).

Para o n-InP fracamente lubrificado em temperaturas perto da mobilidade de tração do elétron de 300 K:

µn = (4.2÷5.4)·103·(300/T) (cm2V-1 s-1)

Bolacha lubrificada Fe 4" da categoria do teste do InP aplicação de detecção ótica semi de isolamento Mobilidade de salão contra a concentração do elétron para relações diferentes da compensação.
θ = Na/Nd, 77 K.
As curvas tracejadas são cálculos teóricos: 1. θ = 0; 2. θ = 0,2; 3. θ = 0,4; 4. θ = 0,6; 5. θ = 0,8;
(  do   de Walukiewicz e outros [1980]).
A linha contínua é valores observados do meio (  do   de Anderson e outros [1985]).
Bolacha lubrificada Fe 4" da categoria do teste do InP aplicação de detecção ótica semi de isolamento Mobilidade de salão contra a concentração do elétron para relações diferentes da compensação
θ =Na/Nd, 300 K.
As curvas tracejadas são cálculos teóricos: 1. θ = 0; 2. θ = 0,2; 3. θ = 0,4; 4. θ = 0,6; 5. θ = 0,8;
(  do   de Walukiewicz e outros [1980]).
A linha contínua é valores observados do meio (  do   de Anderson e outros [1985]).

Fórmula aproximada para a mobilidade de salão do elétron

Μ=ΜOH/[1+ (Nd/107) 1/2],
onde ΜOH=5000 cm2V-1 s-1,
Nd em cm-3 (Hilsum [1974])
Em 300 K, o fator rn≈1 de Salão do elétron no n-InP.
para Nd > 1015 cm-3.

Bolacha lubrificada Fe 4" da categoria do teste do InP aplicação de detecção ótica semi de isolamento Fure a mobilidade de salão contra a temperatura para níveis de lubrificação diferentes (do Zn).
Concentração de furo em 300 K: 1. 1,75·1018 cm-3; 2. 3,6·1017 cm-3; 3. 4,4·1016 cm-3.
θ=Na/Nd~0.1.
(  do   de Kohanyuk e outros [1988]).

Para o p-InP fracamente lubrificado na temperatura perto de 300 K a mobilidade de salão

µpH~150·(300/T) 2,2 (cm2V-1 s-1).

Bolacha lubrificada Fe 4" da categoria do teste do InP aplicação de detecção ótica semi de isolamento Mobilidade de salão do furo contra a densidade do furo, 300 K (Wiley [1975]).
A fórmula aproximada para a mobilidade de salão do furo:
µp=µpo/[1 + (Na/2·1017) 1/2], onde µpo~150 cm2V-1 s-1, Na em cm-3

Em 300 K, o fator do furo no p-InP puro: rp~1

 

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